محبوبترینها
چگونه با ثبت آگهی رایگان در سایت های نیازمندیها، کسب و کارتان را به دیگران معرفی کنید؟
بهترین لوله برای لوله کشی آب ساختمان
دانلود آهنگ های برتر ایرانی و خارجی 2024
ماندگاری بیشتر محصولات باغ شما با این روش ساده!
بارش‌های سیل‌آسا در راه است! آیا خانه شما آماده است؟
بارش‌های سیل‌آسا در راه است! آیا خانه شما آماده است؟
قیمت انواع دستگاه تصفیه آب خانگی در ایران
نمایش جنگ دینامیت شو در تهران [از بیوگرافی میلاد صالح پور تا خرید بلیط]
9 روش جرم گیری ماشین لباسشویی سامسونگ برای از بین بردن بوی بد
ساندویچ پانل: بهترین گزینه برای ساخت و ساز سریع
خرید بیمه، استعلام و مقایسه انواع بیمه درمان ✅?
صفحه اول
آرشیو مطالب
ورود/عضویت
هواشناسی
قیمت طلا سکه و ارز
قیمت خودرو
مطالب در سایت شما
تبادل لینک
ارتباط با ما
مطالب سایت سرگرمی سبک زندگی سینما و تلویزیون فرهنگ و هنر پزشکی و سلامت اجتماع و خانواده تصویری دین و اندیشه ورزش اقتصادی سیاسی حوادث علم و فناوری سایتهای دانلود گوناگون
مطالب سایت سرگرمی سبک زندگی سینما و تلویزیون فرهنگ و هنر پزشکی و سلامت اجتماع و خانواده تصویری دین و اندیشه ورزش اقتصادی سیاسی حوادث علم و فناوری سایتهای دانلود گوناگون
آمار وبسایت
تعداد کل بازدیدها :
1843267818
ابزاری برای تصویربرداری سه بعدی از اجسام 10 نانومتری
واضح آرشیو وب فارسی:ایسنا: شنبه ۲۳ فروردین ۱۳۹۳ - ۰۹:۴۶
پژوهشگران آمریکایی ابزاری برای شناسایی و تصویربرداری سه بعدی از اجسام بسیار کوچک در حد 10 نانومتر ساختند. به گزارش سرویس علمی ایسنا، این محققان با ترکیب یک سیستم مدل‌سازی سه بعدی با میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) موفق به ابداع این ابزار شدند. SEM دستگاهی است که در علوم و صنایع مختلف استفاده می‌شود، زیرا توانایی تصویربرداری از ساختارهای مختلف را دارد. شکل و ابعاد ساختارها اهمیت زیادی دارد، برای مثال برای ساخت ICها و نانوساختارها، اطلاع از جزئیات نمونه اهمیت زیادی دارد. این دستگاه SEM می‌تواند با قدرت تفکیک کمتر از یک نانومتر اطلاعات ساختاری نمونه را به کاربر ارائه دهد. دستگاه‌های SEM مختلفی در بازار وجود دارند که می‌توانند با چنین قدرت تفکیکی تصویر ایجاد کنند؛ مزیت این دستگاه جدید آن است که با قدرت تفکیک بالا اطلاعات مفیدی از هر سه بعد یک نمونه ارائه می‌کند. برای ساخت چنین میکروسکوپی دو چالش اصلی دقت در اندازه‌گیری و تفسیر نتایج وجود دارد. در واقع حرکت نمونه و پرتو الکترونی می‌تواند کیفیت تصاویر را کاهش دهد، از سوی دیگر برای بدست آوردن نتیجه مناسب به یک مدل‌سازی دقیق نیاز است. برای حل این مشکل محققان یک مدل بسیار دقیق برای ایجاد تصویر سه بعدی ارائه کردند که برای اولین بار امکان تصویربرداری از یک ساختار 10 نانومتری را فراهم می‌کند. این برنامه قادر به اصلاح انحراف‌های ایجاد شده در اثر حرکت پرتو الکترونی و نمونه است. همچنین با استفاده از یک روش مبتنی بر شبیه‌ساز مونت کارلو تصویر دو بعدی به تصویر سه بعدی تبدیل می‌شود. این اولین باری است که تصویر سه بعدی دقیقی در مقیاس 10 نانومتر از نمونه با استفاده از SEM ترسیم می‌شود، بطوری که می‌توان ساختمان یک IC را بصورت سه بعدی به تصویر کشید. این گروه برای تست نتایج بدست آمده از این میکروسکوپ، تصویر گرفته شده از یک IC با این SEM را با تصویر TEM همین IC مقایسه کردند. تفاوت میان دو تصویر کمتر از یک نانومتر، در حد چند اتم بود. به گفته محققان این پروژه، در حال حاضر هیچ روش تک مرحله‌ای وجود ندارد که بتواند تمام این اطلاعات را یکجا در اختیار کاربر قرار دهد، اما این SEM در یک مرحله می‌تواند اطلاعات سه بعدی در مقیاس‌های بسیار پایین در اختیار کاربر قرار دهد. انتهای پیام
کد خبرنگار:
این صفحه را در گوگل محبوب کنید
[ارسال شده از: ایسنا]
[مشاهده در: www.isna.ir]
[تعداد بازديد از اين مطلب: 42]
-
گوناگون
پربازدیدترینها