روشي جديد براي اندازه گيري اثرات مغناطيسي در مقياس نانو / فان پاتوق

-
گروهي از محققان ژاپني، روش جديدي براي ارزيابي ساختار مغناطيسي و الكترونيكي لايه.هاي اتمي زيرسطحي در يك ماده ابداع كرده.اند. اين روش كه «طيف.سنجي پراش» ناميده شده.است، براي اندازه.گيري اثرات مغناطيسي در مقياس نانو و توسعة ضبط مغناطيسي چگالِ «عمودي» بسيار سودمند خواهد بود.

به.زودي در ذخيره.سازي داده به چگالي.اي بيش از 1012 بيت در هر اينچ مربع نياز خواهد بود. براي دستيابي به چنين چگالي.اي به بيت.هايي نياز است كه عرض آنها تنها ده نانومتر و يا كمتر باشد؛ اما از آنجا كه در اين سطح، اثرات مغناطيسي سطحي پديدار مي.شود، شناخت اثرات مغناطيسي غير معمول، در اين سطح امري ضروري است.