-
حسگر بیسیم برای بررسی آسیب مغزی ناشی از انفجار/پروژه دانشمند ایرانی دانش > پزشکی - ایسنا نوشت: دانشمند ایرانی دانشگاه پوردو و تیمش یک سیستم جدید را ارائه دادهاند که برای نخستین بار از یک کاشت بیسیم با قطر سه میلیمتر برای ثبت چگونگی تغییر شکل بافت مغزی در زمان قرار گرفتن در معرض شوک ایجاد کننده ترومای ناشی از انفجار استفاده کرده است.
قان به رهبری پروفسور بابک ضیائی، استاد مهندسی برق و رایانه و مهندسی